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    平板探测器成像质量的性能指标主要有两个：量子勘探功率和空间分辩率，其是数字化X光机成像好坏决定性因素之一。 DQE决定了平板探测器对不一样安排密度区别的分辩才能；而医疗器械空间分辩率决议了对安排细微布局的分辩能力。那么如何判断数字化X光机平板探测器质量性能？

    （1）影响平板探测器DQE的要素
    直接变换平板探测器中，X线变换成电信号决议于非晶硒层发生的电子-空穴对， DQE的凹凸取决于非晶硒层发生电荷的才能。总的来说，碘化铯 ( CsI ) + a-Si(非晶 硅)+ TFT布局的直接变换平板探测器的极限DQE高于a-Se (非晶硒) 直接变换平板探测 器的极限DQE。

（普朗品牌产品--移动数字化X光机PLX5200）

    （2）影响平板探测器空间分辩率的要素
    在直接变换平板勘探器中，空间分辩率决议于单位面积内薄膜晶体管矩阵巨细。 矩阵越大薄膜晶体管个数越多，空间分辩率越高，能够到达很高的空间分辩率。

    （3）量子探测功率于空间分辩率的联系
    关于同一种平板探测器，在不一样的空间分辩率时，其DQE是改变的；极限的DQE高 ，不等于在任何空间分辩率时DQE都高。DQE的计算公式如下：
    DQE=S2×MFT2/NSP×X×C
    S：信号均匀强度；MFT：调制传递函数；X：X线曝光强度；NPS：体系噪声功率谱 ；C：X线量子系数

    从计算公式中能够晓得，不一样的MFT值中对应不一样的DQE，这说明在不一样的空间分辨率时有不一样的DQE。

    直接变换平板探测器的极限DQE比较高，可是跟着空间分辩率的进步，其DQE降低得较多；而直接变换平板探测器的极限DQE不如直接变换平板探测器的极限DQE高，但在高空间分辩率时，直接变换平板探测器的DQE高。